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    低溫多晶矽面板色不均缺陷檢測之研究
    • 電子工程系 /95/ 碩士
    • 研究生: 陳彥彰 指導教授: 范慶麟
    • 於本論文中,我們針對低溫多晶矽面板(LTPS)良率無法提升作探討,發現在各式異常的缺陷中,以色不均(Mura)的缺陷令所有面板製造商深受其苦,所有面板業界無不苦思對策,期待能兼顧量產與準確度的要求下…
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